存放地

榆林创新院D107

仪器负责人

肖田田

联系电话

18821618663

性能指标

1. 仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

2. 设备方阻值测量范围：0.001 - 800,000 Ω/sq。

功能及应用

测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻、方块电阻及电阻率

样品要求

片状固体或薄膜；膜直径或者边长≥1cm；若测电阻率，需提供膜厚

收费标准

实验项目

院内

院外

电阻率/方阻测试

40元/样

50元/样